Difference between revisions of "German"
From EDA Glossary
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| actual arrival time (AAT) || Tatsächliche Ankunftszeit | | actual arrival time (AAT) || Tatsächliche Ankunftszeit | ||
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| + | | admissible function ||Zulässige Funktion | ||
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| + | | alignment ||Ausrichtung | ||
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| + | | aspect ratio ||Seitenverhältnis | ||
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| + | | ASIC (application-specific integrated circuit) ||Anwendungspezifischer integrierter Schaltkreis | ||
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| + | | bidirectional ||Bidirektional / ungerichtet | ||
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| + | | big-oh ||O-Notation | ||
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| + | | bipartite graph|| Bipartiter Graph / zweiteiliger Graph | ||
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| + | | bottleneck ||Flaschenhals / Engpass | ||
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| + | | bottom-up ||Bottom-Up, Entwurfsparadigma: von unten nach oben / von Konkret zu Abstrakt | ||
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| + | | bounding box ||Umspannendes Rechteck | ||
| + | |- | ||
| + | | breadth-first search (BFS) ||Suche erfolgt in der Breite, d.h. alle Elemente werden in der gleichen Tiefe indiziert | ||
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| + | | buffer insertion, buffering ||Einsetzen von Verstärkern zur Erhöhung der Treiberleistung | ||
| + | |- | ||
| + | | capacitive load ||Kapazitive Last | ||
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| + | | capacity ||Kapazität | ||
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| + | | capacitance (capacitive) shielding ||Kapazitive Schirmung / Schirmung vor kapazitiven Einflüssen | ||
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| + | | channel ||Kanal | ||
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| + | | chip die ||Halbleiterträger eines Integrierten Schaltkreises | ||
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| + | | clique ||Clique, vollständiger (Teil-)Graph mit einer gegebenen Anzahl von Knoten | ||
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| + | | clock cycle, period ||Taktzyklus / -periode | ||
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| + | | clock tree ||Taktnetz / -baum | ||
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| + | | clock skew ||Taktversatz (zwischen zwei synchronen Schaltungselementen) | ||
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| + | | CMOS (complementary metal oxide semiconductor) ||Komplementäre MOS Technik/ Komplementärer Metall-Oxid- Halbleiter | ||
| + | |- | ||
| + | | combinational circuit ||Kombinatorischer Schaltkreise (ohne Speicherelemente) | ||
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| + | | combinatorial optimization ||kombinatorische (diskrete) Optimierung / Schaltungsoptimierung | ||
| + | |- | ||
| + | | Communication ||Kommunikation | ||
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| + | | conditioning number ||Konditionszahl / Maß für die Abhängigkeit einer Problemlösung von der (ungünstigsten) Störung der Eingangsdaten | ||
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| + | | conductor ||Leiter | ||
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| + | | congestion ||Überlastung | ||
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| + | | Congestion-driven ||Überlastungsgesteuert | ||
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| + | | conjugate gradients ||Konjugierte Gradienten (mathematisches Verfahren) | ||
| + | |- | ||
| + | | Constraint ||Randbedingung / Vorgabe | ||
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| + | | converter ||Wandler / Konverter | ||
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| + | | convex ||Konvex | ||
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| + | | correction ||Korrektur / Berichtigung / Verbesserung | ||
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| + | | coupling capacitance ||Koppelkapazität | ||
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| + | | critical ||Kritisch | ||
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| + | | crosstalk noise ||Rauschen durch (Signal-)Überlagerung | ||
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| + | | current ||Strom | ||
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| + | | curve ||Kurve / Biegung | ||
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| + | | data point (in a data set) ||Datenpunkt (in einem Datensatz) | ||
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| + | | delay budgeting ||Verzögerungsplanung | ||
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| + | | delay (fall delay / rise delay) ||Verzögerung (Abfallverzögerung / Anstiegsverzögerung) | ||
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| + | | density ||Dichte | ||
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| + | | depth-first search (DFS) ||Suche erfolgt in die Tiefe, d.h. es werden Elemente mit ständig wachsender Tiefe indiziert | ||
| + | |- | ||
| + | | derivative ||Abgeleitet / Ableitung / Derivat | ||
| + | |- | ||
| + | | design flow ||Entwurfsprozess | ||
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| + | | design productivity crisis ||Entwurfsproduktivitätskrise | ||
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| + | | design rule ||Entwurfsregel | ||
| + | |- | ||
| + | | diamond ||Rhombus | ||
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| + | | die ||Unverpackter Siliziumchip / Chip mit integrierter Schaltung (bezogen auf das Herstellungsverfahren von Halbleitern) | ||
| + | |- | ||
| + | | digital ||Digital | ||
| + | |- | ||
| + | | directed graph ||Gerichteter Graph | ||
| + | |- | ||
| + | | distribution ||Verteilung | ||
| + | |- | ||
| + | | detour ||(Verdrahtungs-)Umweg | ||
| + | |- | ||
| + | | driver ||Treiber(-Stufe) | ||
| + | |- | ||
| + | | diven (sink, pin) ||Senke, Pin (Kontakt) | ||
| + | |- | ||
| + | | dogleg ||Knick (eines Verdrahtungsweges) | ||
| + | |- | ||
| + | | downsizing ||Reduzierung / Skalierung | ||
| + | |- | ||
| + | | downstream ||Unterhalb / nachfolgend | ||
| + | |- | ||
| + | | EDA (electronic design automation) ||Entwurfsautomatisierung in der Elektrotechnik (EDA) | ||
| + | |- | ||
| + | | edge ||Kante | ||
| + | |- | ||
| + | | embedding ||Eingebettet / einbetten | ||
| + | |- | ||
| + | | engine ||Komponente des CAD-Systems, welches einem gemeinsam Ziel dient ("Motor") | ||
| + | |- | ||
| + | | estimate ||Auswerten, beurteilen, Einschätzen | ||
| + | |- | ||
| + | | evenly ||Gleichmäßig | ||
| + | |- | ||
| + | | evidence ||Beweis | ||
| + | |- | ||
| + | | excessive ||Übermäßig | ||
| + | |- | ||
| + | | exhaustive enumeration ||Erschöpfende / vollständige Aufzählung (Vollständige Suche) | ||
| + | |- | ||
| + | | gain ||Gewinn, Nutzen | ||
| + | |- | ||
| + | | gate ||(Logik-)Gatter | ||
| + | |- | ||
| + | | gate array ||Gate-Arrays (regelmäßige Anordnung von Gattern, welche per Verdrahtung in spezifische Schaltkreise überführt werden) | ||
| + | |- | ||
| + | | gate sizing ||Skalierung von Gattern | ||
| + | |- | ||
| + | | ground ||Erdung | ||
| + | |- | ||
| + | | fab, fabrication ||Herstellung | ||
| + | |- | ||
| + | | fake ||Fälschung | ||
| + | |- | ||
| + | | Fan-in ||Maximale Anzahl logischer Eingänge, die einen Baustein antreiben | ||
| + | |- | ||
| + | | Fan-out ||Maximale Anzahl logischer Bausteine, die per Ausgang angetrieben werden können | ||
| + | |- | ||
| + | | feedthrough cell ||Durchgangszelle | ||
| + | |- | ||
| + | | fixed die ||Chip mit fester Größe / Position | ||
| + | |- | ||
| + | | Flip-flop ||Bistabiles Kippglied; umgangssprachlich meist für Flankengesteuertes Flipflop | ||
| + | |- | ||
| + | | floorplanning ||Floorplanning | ||
| + | |- | ||
| + | | floorplan sizing ||Festlegung der Außenform der Topzelle und Festlegung der einzelnen Blockformen und -abmessungen | ||
| + | |- | ||
| + | | flow ||Fluss / Entwurfsfluss | ||
| + | |- | ||
| + | | Force-directed ||Kräftebasiert / Kraft-gerichtet | ||
| + | |- | ||
| + | | FIFO (first-in first-out) ||FIFO-Verfahren / Datenhaltung in Warteschlange | ||
| + | |- | ||
| + | | FPGA (field-programmable gate array), PLD (programmable logic device) ||(Im Anwendungsfeld) Programmierbare Gatter-Matrix von Logikbausteinen | ||
| + | |- | ||
| + | | full-chip routing ||Verdrahtung des gesamten Chips | ||
| + | |- | ||
| + | | grid ||Netz/Gitter/Raster | ||
| + | |- | ||
| + | | hard block ||Module mit festen Größen, Abmessungen | ||
| + | |- | ||
| + | | hardware ||Hardware | ||
| + | |- | ||
| + | | height ||Höhe | ||
| + | |- | ||
| + | | hill-climbing (an optimization approach) ||Bergsteigen (Ansatz zur Optimierung von nichtkonvexen Funktionen) / Hill-Climbing | ||
| + | |- | ||
| + | | hold constraints ||Randbedingung bzgl. der Haltedauer / Gültigkeit von Signalen | ||
| + | |- | ||
| + | | HPWL ||Verdrahtungslänge, nach dem halben Umfang des umspannenden Rechtecks des Netzes | ||
| + | |- | ||
| + | | IC layout ||Layout, eine geometrische Darstellung („Geometrie“) eines integrierten Schaltkreises | ||
| + | |- | ||
| + | | inaccuracy ||Ungenauigkeit / Fehler | ||
| + | |- | ||
| + | | increase ||Erhöhen / steigern | ||
| + | |- | ||
| + | | intersect ||Überschneiden | ||
| + | |- | ||
| + | | insulator ||Isolator | ||
| + | |- | ||
| + | | interconnect ||Verbindungen | ||
| + | |- | ||
| + | | intrinsic delay ||Verzögerungszeit einer Zelle / eines Gatters | ||
| + | |- | ||
| + | | ITRS (the International Technology Roadmap for Semiconductors) ||Internationale Roadmap für Halbleitertechnik | ||
| + | |- | ||
| + | | layer assignment (for a route) ||Zuweisung von Verdrahtungsebenen (für ein Netz) | ||
| + | |- | ||
| + | | layout optimizations ||Optimierung des physikalischen Entwurfs / Layout-Optimierung | ||
| + | |- | ||
| + | | latch ||Zustandsgesteuertes Flipflop | ||
| + | |- | ||
| + | | layout ||Layout / physikalischer Entwurf | ||
| + | |- | ||
| + | | leakage ||Leckstrom | ||
| + | |- | ||
| + | | length ||Länge | ||
| + | |- | ||
| + | | light ||Leicht | ||
| + | |- | ||
| + | | lock ||Fixieren | ||
| + | |- | ||
| + | | longest path ||Längster Pfad | ||
| + | |- | ||
| + | | lookup table ||Umsetzungs- / Referenz-Tabelle | ||
| + | |- | ||
| + | | loop ||Zyklus (im Programm, eines iterativen Verfahrens) | ||
| + | |- | ||
| + | | Manhattan distance, L1-distance ||L1-Norm-Distanz / Distanz innerhalb der Manhattan Metrik | ||
| + | |- | ||
| + | | mask (photomask) ||Maske (Photomaske) | ||
| + | |- | ||
| + | | mask generation ||Maskenerstellung | ||
| + | |- | ||
| + | | matching ||Abgleich/Angleichen/Abstimmung | ||
| + | |- | ||
| + | | merge ||Vereinen, zusammenfügen, verschmelzen, fusionieren | ||
| + | |- | ||
| + | | mesh ||Netz | ||
| + | |- | ||
| + | | method of means and medians ||Methode der Mittelwerte und Mediane | ||
| + | |- | ||
| + | | min-cut placement ||Min-Cut-Platzierung | ||
| + | |- | ||
| + | | minimum least squares ||Methode der kleinsten Quadrate | ||
| + | |- | ||
| + | | move-based optimization ||Rundenbasierte / iterative Optimierung | ||
| + | |- | ||
| + | | move gain ||Iterationsgewinn | ||
| + | |- | ||
| + | | multistage optimization ||Schrittweise Optimierung / Mehrstufige Optimierung | ||
| + | |- | ||
| + | | negligible ||Vernachlässigbar | ||
| + | |- | ||
| + | | negotiated congestion routing ||Verdrahtungs-Verfahren zur Berücksichtigung von bedingten Engpässen (Kanäle, Regionen, etc.), „Auktion“- Verdrahtung | ||
| + | |- | ||
| + | | netlist ||Netzliste (logische Schaltungsbeschreibung) | ||
| + | |- | ||
| + | | netlist restructuring ||Umstrukturierung der Netzliste / Umstrukturierungsregelung | ||
| + | |- | ||
| + | | network ||Netzwerk, Gitterschema | ||
| + | |- | ||
| + | | noise ||Rauschen | ||
| + | |- | ||
| + | | nonintersecting routes ||Disjunkte Routen / nichtüberschneidende Verbindungen | ||
| + | |- | ||
| + | | nonoverlapping blocks ||Nicht-überlappende Blöcke | ||
| + | |- | ||
| + | | nonslicing floorplan ||Nicht-geschnittener Floorplan | ||
| + | |- | ||
| + | | nonuniform ||Uneinheitlich | ||
| + | |- | ||
| + | | offset ||Offset / Versatz | ||
| + | |- | ||
| + | | ordering ||Reihenfolge / Abfolge / Ordnung | ||
| + | |- | ||
| + | | overlap ||Überlappung / Überschneidung | ||
| + | |- | ||
| + | | over-the-cell routing ||Verdrahtung über die Gattern hinweg | ||
| + | |- | ||
| + | | pad ||Kontaktfeld (auf Chip) | ||
| + | |- | ||
| + | | partial derivative ||Partielle Ableitung|- | ||
| + | |- | ||
| + | | pass (in algorithms) ||Durchlauf (von Algorithmen) | ||
| + | |- | ||
| + | | path ||Pfad | ||
| + | |- | ||
| + | | pattern ||Struktur | ||
| + | |- | ||
| + | | pattern routing ||Raster-Verdrahtung | ||
| + | |- | ||
| + | | partition ||Partition/ Teilung | ||
| + | |- | ||
| + | | PCB (printed circuit board) ||Leiterplatte | ||
| + | |- | ||
| + | | performance constraints ||Performance-/ Leistungsvorgaben | ||
| + | |- | ||
| + | | performance optimization ||Performance-/ Leistungsoptimierung | ||
| + | |- | ||
| + | | per-unit resistance (capacitance) ||Hilfsmaßeinheit Per-Unit, relative Größenangabe, für Widerstand oder Kapazität | ||
| + | |- | ||
| + | | pin ||Elektrischer Anschluss einer Zelle bzw. Eines Bauelements | ||
| + | |- | ||
| + | | pin assignment ||Pinzuordnung | ||
| + | |- | ||
| + | | pin ordering ||Pinreihenfolge | ||
| + | |- | ||
| + | | placement ||Platzierung | ||
| + | |- | ||
| + | | primary inputs (outputs) ||Primäre Eingangs-(Ausgangs-)kontakte | ||
| + | |- | ||
| + | | pole ||Pol | ||
| + | |- | ||
| + | | polygon ||Polygon | ||
| + | |- | ||
| + | | power ||Leistung / Energie | ||
| + | |- | ||
| + | | power consumption ||Energieverbrauch / Leistungsaufnahme | ||
| + | |- | ||
| + | | power network ||Energieversorgungsnetz | ||
| + | |- | ||
| + | | process variation ||Schwankungen im Herstellungsprozess (d.h. Streuparameter) | ||
| + | |- | ||
| + | | proximity ||Nähe | ||
| + | |- | ||
| + | | queue ||Reihe / Schlange | ||
| + | |- | ||
| + | | rectangle ||Rechteck | ||
| + | |- | ||
| + | | reduce ||Reduzieren | ||
| + | |- | ||
| + | | refinement of a clustered graph (different from partition refinement)|| Verfeinerung eines Gruppierten Graphs (abweichend von | ||
| + | Partitionsverfeinerung) | ||
| + | |- | ||
| + | | remove ||Entfernen | ||
| + | |- | ||
| + | | restructuring ||Umstrukturierung | ||
| + | |- | ||
| + | | repeater ||Wiederholer, Repeater (Buffer, Verstärker, etc.) | ||
| + | |- | ||
| + | | required arrival time (RAT) ||Benötigte / geforderte Ankunftszeit | ||
| + | |- | ||
| + | | reset ||Neustart | ||
| + | |- | ||
| + | | resistance ||Widerstand | ||
| + | |- | ||
| + | | resolution enhancement technique (RET) ||Methoden zur Auflösungsverbesserung bei Strukturen unterhalb der Lichtwellenlänge | ||
| + | |- | ||
| + | | rip-up and reroute ||Verdrahtungsverfahren welches (ohne Betrachtung der vorherigen Reihenfolge) die Verdrahtung bzgl. Blockierungen untersucht und partiell neu verlegt | ||
| + | |- | ||
| + | | routing ||Verdrahtung | ||
| + | |- | ||
| + | | routing congestion ||Verdrahtungsüberlastung | ||
| + | |- | ||
| + | | routing pitch ||Abstand von Verdrahtungsbahnen | ||
| + | |- | ||
| + | |routing track ||Verdrahtungsbahn | ||
| + | |- | ||
| + | | row-based layout ||Reihenbasiertes Schaltungs-Layout | ||
| + | |- | ||
| + | | runtime ||Betriebszeit | ||
| + | |- | ||
| + | | scale ||Dimension des Problems | ||
| + | |- | ||
| + | | schedule ||Zeitplan | ||
| + | |- | ||
| + | | segment ||Segment | ||
| + | |- | ||
| + | | semiconductor wafer ||Halbleiter (Silizium- )Wafer | ||
| + | |- | ||
| + | | sequential circuit ||Reihenschaltung ( Schaltung mit Speicherelementen) | ||
| + | |- | ||
| + | | set ||Menge | ||
| + | |- | ||
| + | | setup constraints ||Aufbauvorgaben / -randbedingungen | ||
| + | |- | ||
| + | | shallow ||Oberflächlich | ||
| + | |- | ||
| + | | shape ||Form (z.B. das Verhältnis eines Rechtecks) | ||
| + | |- | ||
| + | | Short-circuit ||Kurzschluss | ||
| + | |- | ||
| + | | shortest-path tree ||Minimaler Baum | ||
| + | |- | ||
| + | | signal net ||Signalnetz | ||
| + | |- | ||
| + | | signal integrity ||Signalintegrität | ||
| + | |- | ||
| + | | signoff ||Ablieferung / Abnahme des Projekts | ||
| + | |- | ||
| + | | skew ||Zeitdifferenz zwischen Ereignissen, welche simultan seien sollten | ||
| + | |- | ||
| + | | slew rate ||Umschaltvorgang / -dauer eines Signals, Schaltgeschwindigkeit (z.B. in Volt/ns) | ||
| + | |- | ||
| + | | slicing floorplan ||Geschnittener Floorplan | ||
| + | |- | ||
| + | | simulated annealing ||Simulated-Annealing-Algorithmus („Simulierte Abkühlung“) | ||
| + | |- | ||
| + | | single-trunk tree ||(Verdrahtungs-)Baum mit einem Hauptstamm | ||
| + | |- | ||
| + | | sizing ||Skalierung | ||
| + | |- | ||
| + | | snaking ||Verlängerung von Verdrahtungswegen mittels Windungen, wiederholten Biegungen („Schlängellinien“) | ||
| + | |- | ||
| + | | soft block ||Module mit fester Größe / Fläche bei veränderbaren Abmessungen | ||
| + | |- | ||
| + | | spanning tree ||Spannbaum | ||
| + | |- | ||
| + | | sparse ||Dünn / spärlich | ||
| + | |- | ||
| + | | specific ||Spezifisch | ||
| + | |- | ||
| + | | square ||Quadratisch | ||
| + | |- | ||
| + | | stage ||Phase / Stufe | ||
| + | |- | ||
| + | | standard cell ||Standardzelle | ||
| + | |- | ||
| + | | successive (over)relaxation ||Splitting-Verfahren, iterative Verfahren zum Lösen linearer Gleichungssysteme | ||
| + | |- | ||
| + | | switchbox ||Verdrahtungs- / Kreuzungsbereich von horizontalen und vertikalen (Verdrahtungs-)Kanälen | ||
| + | |- | ||
| + | | tapeout (of a chip) ||Übergabe der Geometriedaten an die Fertigung | ||
| + | |- | ||
| + | | target ||Ziel | ||
| + | |- | ||
| + | | technology node ||Technologieknoten | ||
| + | |- | ||
| + | | termination ||Abschluss / Abbruch / Terminierung | ||
| + | |- | ||
| + | | thickness ||Dicke | ||
| + | |- | ||
| + | | timing slack ||Schlupfvariable (für die Taktung) | ||
| + | |- | ||
| + | | timing-driven placement/routing ||Platzierung / Verdrahtung unter Berücksichtigung von (maximaler) Signalverzögerung | ||
| + | |- | ||
| + | | Top-down ||Top-down, Entwurfsparadigma: von oben nach unten / von Abstrakt zu Konkret | ||
| + | |- | ||
| + | | total length ||Gesamtlänge | ||
| + | |- | ||
| + | | tradeoff ||Kompromiss | ||
| + | |- | ||
| + | | transition time ||Umschaltzeit | ||
| + | |- | ||
| + | | traversal ||Traversierung, Durchgang | ||
| + | |- | ||
| + | | trial placement/routing ||Versuchsbasierte, Vorläufige Platzierung / Verdrahtung | ||
| + | |- | ||
| + | | try ||Versuch | ||
| + | |- | ||
| + | | uniform ||Einheitlich | ||
| + | |- | ||
| + | | undirected graph ||Ungerichteter Graph | ||
| + | |- | ||
| + | | unroll ||Erweitern | ||
| + | |- | ||
| + | | update ||Aktualisierung / Berichtigung | ||
| + | |- | ||
| + | | upstream ||Flussaufwärts | ||
| + | |- | ||
| + | | variable die ||Variabler Chip / Chip unbekannter Größe | ||
| + | |- | ||
| + | | via ||Durchkontaktierung zur Verbindung von Leiterbahnen auf verschiedenen Materialebenen | ||
| + | |- | ||
| + | | violation ||Verletzung / Nichteinhaltung | ||
| + | |- | ||
| + | | voltage ||Spannung | ||
| + | |- | ||
| + | | wafer ||Siliziumscheibe | ||
| + | |- | ||
| + | | width || Breite | ||
| + | |- | ||
| + | | VLSI || (very-large system integration) Hochintegrierter Schaltkreis | ||
| + | |- | ||
| + | | VDD || Stromversorgung | ||
| + | |- | ||
| + | | VSS || Masse / Ground | ||
| + | |- | ||
| + | | yield || Ausbeute (Verhältnis nutzbarer Schaltkreis zu gesamten Schaltkreisen eines Wafers) | ||
| + | |- | ||
| + | | ZSA (zero-slack algorithm) || Verfahren zur Bestimmung von Schlupfvariablen für Netze (bzgl. des Taktes), sodass Verzögerungs- / Taktungskriterien erfüllt sind und größtmögliche Freiheit der Schlupfvariablen gegeben ist | ||
| + | |- | ||
| + | | ZST (zero-skew tree) || Taktbaum ohne asymmetrische Verzögerungen, d.h., Schlupfvariablen sind gleichförmig verteilt | ||
|} | |} | ||
Revision as of 23:02, 30 July 2013
| English terms | Übersetzung (deutscher Begriff, Beschreibung) |
|---|---|
| acceptance criterion | Akzeptanzkriterium |
| actual arrival time (AAT) | Tatsächliche Ankunftszeit |
| adjacent | Angrenzend |
| admissible function | Zulässige Funktion |
| alignment | Ausrichtung |
| aspect ratio | Seitenverhältnis |
| ASIC (application-specific integrated circuit) | Anwendungspezifischer integrierter Schaltkreis |
| bidirectional | Bidirektional / ungerichtet |
| big-oh | O-Notation |
| bipartite graph | Bipartiter Graph / zweiteiliger Graph |
| bottleneck | Flaschenhals / Engpass |
| bottom-up | Bottom-Up, Entwurfsparadigma: von unten nach oben / von Konkret zu Abstrakt |
| bounding box | Umspannendes Rechteck |
| breadth-first search (BFS) | Suche erfolgt in der Breite, d.h. alle Elemente werden in der gleichen Tiefe indiziert |
| buffer insertion, buffering | Einsetzen von Verstärkern zur Erhöhung der Treiberleistung |
| capacitive load | Kapazitive Last |
| capacity | Kapazität |
| capacitance (capacitive) shielding | Kapazitive Schirmung / Schirmung vor kapazitiven Einflüssen |
| channel | Kanal |
| chip die | Halbleiterträger eines Integrierten Schaltkreises |
| clique | Clique, vollständiger (Teil-)Graph mit einer gegebenen Anzahl von Knoten |
| clock cycle, period | Taktzyklus / -periode |
| clock tree | Taktnetz / -baum |
| clock skew | Taktversatz (zwischen zwei synchronen Schaltungselementen) |
| CMOS (complementary metal oxide semiconductor) | Komplementäre MOS Technik/ Komplementärer Metall-Oxid- Halbleiter |
| combinational circuit | Kombinatorischer Schaltkreise (ohne Speicherelemente) |
| combinatorial optimization | kombinatorische (diskrete) Optimierung / Schaltungsoptimierung |
| Communication | Kommunikation |
| conditioning number | Konditionszahl / Maß für die Abhängigkeit einer Problemlösung von der (ungünstigsten) Störung der Eingangsdaten |
| conductor | Leiter |
| congestion | Überlastung |
| Congestion-driven | Überlastungsgesteuert |
| conjugate gradients | Konjugierte Gradienten (mathematisches Verfahren) |
| Constraint | Randbedingung / Vorgabe |
| converter | Wandler / Konverter |
| convex | Konvex |
| correction | Korrektur / Berichtigung / Verbesserung |
| coupling capacitance | Koppelkapazität |
| critical | Kritisch |
| crosstalk noise | Rauschen durch (Signal-)Überlagerung |
| current | Strom |
| curve | Kurve / Biegung |
| data point (in a data set) | Datenpunkt (in einem Datensatz) |
| delay budgeting | Verzögerungsplanung |
| delay (fall delay / rise delay) | Verzögerung (Abfallverzögerung / Anstiegsverzögerung) |
| density | Dichte |
| depth-first search (DFS) | Suche erfolgt in die Tiefe, d.h. es werden Elemente mit ständig wachsender Tiefe indiziert |
| derivative | Abgeleitet / Ableitung / Derivat |
| design flow | Entwurfsprozess |
| design productivity crisis | Entwurfsproduktivitätskrise |
| design rule | Entwurfsregel |
| diamond | Rhombus |
| die | Unverpackter Siliziumchip / Chip mit integrierter Schaltung (bezogen auf das Herstellungsverfahren von Halbleitern) |
| digital | Digital |
| directed graph | Gerichteter Graph |
| distribution | Verteilung |
| detour | (Verdrahtungs-)Umweg |
| driver | Treiber(-Stufe) |
| diven (sink, pin) | Senke, Pin (Kontakt) |
| dogleg | Knick (eines Verdrahtungsweges) |
| downsizing | Reduzierung / Skalierung |
| downstream | Unterhalb / nachfolgend |
| EDA (electronic design automation) | Entwurfsautomatisierung in der Elektrotechnik (EDA) |
| edge | Kante |
| embedding | Eingebettet / einbetten |
| engine | Komponente des CAD-Systems, welches einem gemeinsam Ziel dient ("Motor") |
| estimate | Auswerten, beurteilen, Einschätzen |
| evenly | Gleichmäßig |
| evidence | Beweis |
| excessive | Übermäßig |
| exhaustive enumeration | Erschöpfende / vollständige Aufzählung (Vollständige Suche) |
| gain | Gewinn, Nutzen |
| gate | (Logik-)Gatter |
| gate array | Gate-Arrays (regelmäßige Anordnung von Gattern, welche per Verdrahtung in spezifische Schaltkreise überführt werden) |
| gate sizing | Skalierung von Gattern |
| ground | Erdung |
| fab, fabrication | Herstellung |
| fake | Fälschung |
| Fan-in | Maximale Anzahl logischer Eingänge, die einen Baustein antreiben |
| Fan-out | Maximale Anzahl logischer Bausteine, die per Ausgang angetrieben werden können |
| feedthrough cell | Durchgangszelle |
| fixed die | Chip mit fester Größe / Position |
| Flip-flop | Bistabiles Kippglied; umgangssprachlich meist für Flankengesteuertes Flipflop |
| floorplanning | Floorplanning |
| floorplan sizing | Festlegung der Außenform der Topzelle und Festlegung der einzelnen Blockformen und -abmessungen |
| flow | Fluss / Entwurfsfluss |
| Force-directed | Kräftebasiert / Kraft-gerichtet |
| FIFO (first-in first-out) | FIFO-Verfahren / Datenhaltung in Warteschlange |
| FPGA (field-programmable gate array), PLD (programmable logic device) | (Im Anwendungsfeld) Programmierbare Gatter-Matrix von Logikbausteinen |
| full-chip routing | Verdrahtung des gesamten Chips |
| grid | Netz/Gitter/Raster |
| hard block | Module mit festen Größen, Abmessungen |
| hardware | Hardware |
| height | Höhe |
| hill-climbing (an optimization approach) | Bergsteigen (Ansatz zur Optimierung von nichtkonvexen Funktionen) / Hill-Climbing |
| hold constraints | Randbedingung bzgl. der Haltedauer / Gültigkeit von Signalen |
| HPWL | Verdrahtungslänge, nach dem halben Umfang des umspannenden Rechtecks des Netzes |
| IC layout | Layout, eine geometrische Darstellung („Geometrie“) eines integrierten Schaltkreises |
| inaccuracy | Ungenauigkeit / Fehler |
| increase | Erhöhen / steigern |
| intersect | Überschneiden |
| insulator | Isolator |
| interconnect | Verbindungen |
| intrinsic delay | Verzögerungszeit einer Zelle / eines Gatters |
| ITRS (the International Technology Roadmap for Semiconductors) | Internationale Roadmap für Halbleitertechnik |
| layer assignment (for a route) | Zuweisung von Verdrahtungsebenen (für ein Netz) |
| layout optimizations | Optimierung des physikalischen Entwurfs / Layout-Optimierung |
| latch | Zustandsgesteuertes Flipflop |
| layout | Layout / physikalischer Entwurf |
| leakage | Leckstrom |
| length | Länge |
| light | Leicht |
| lock | Fixieren |
| longest path | Längster Pfad |
| lookup table | Umsetzungs- / Referenz-Tabelle |
| loop | Zyklus (im Programm, eines iterativen Verfahrens) |
| Manhattan distance, L1-distance | L1-Norm-Distanz / Distanz innerhalb der Manhattan Metrik |
| mask (photomask) | Maske (Photomaske) |
| mask generation | Maskenerstellung |
| matching | Abgleich/Angleichen/Abstimmung |
| merge | Vereinen, zusammenfügen, verschmelzen, fusionieren |
| mesh | Netz |
| method of means and medians | Methode der Mittelwerte und Mediane |
| min-cut placement | Min-Cut-Platzierung |
| minimum least squares | Methode der kleinsten Quadrate |
| move-based optimization | Rundenbasierte / iterative Optimierung |
| move gain | Iterationsgewinn |
| multistage optimization | Schrittweise Optimierung / Mehrstufige Optimierung |
| negligible | Vernachlässigbar |
| negotiated congestion routing | Verdrahtungs-Verfahren zur Berücksichtigung von bedingten Engpässen (Kanäle, Regionen, etc.), „Auktion“- Verdrahtung |
| netlist | Netzliste (logische Schaltungsbeschreibung) |
| netlist restructuring | Umstrukturierung der Netzliste / Umstrukturierungsregelung |
| network | Netzwerk, Gitterschema |
| noise | Rauschen |
| nonintersecting routes | Disjunkte Routen / nichtüberschneidende Verbindungen |
| nonoverlapping blocks | Nicht-überlappende Blöcke |
| nonslicing floorplan | Nicht-geschnittener Floorplan |
| nonuniform | Uneinheitlich |
| offset | Offset / Versatz |
| ordering | Reihenfolge / Abfolge / Ordnung |
| overlap | Überlappung / Überschneidung |
| over-the-cell routing | Verdrahtung über die Gattern hinweg |
| pad | Kontaktfeld (auf Chip) |
| partial derivative | - |
| pass (in algorithms) | Durchlauf (von Algorithmen) |
| path | Pfad |
| pattern | Struktur |
| pattern routing | Raster-Verdrahtung |
| partition | Partition/ Teilung |
| PCB (printed circuit board) | Leiterplatte |
| performance constraints | Performance-/ Leistungsvorgaben |
| performance optimization | Performance-/ Leistungsoptimierung |
| per-unit resistance (capacitance) | Hilfsmaßeinheit Per-Unit, relative Größenangabe, für Widerstand oder Kapazität |
| pin | Elektrischer Anschluss einer Zelle bzw. Eines Bauelements |
| pin assignment | Pinzuordnung |
| pin ordering | Pinreihenfolge |
| placement | Platzierung |
| primary inputs (outputs) | Primäre Eingangs-(Ausgangs-)kontakte |
| pole | Pol |
| polygon | Polygon |
| power | Leistung / Energie |
| power consumption | Energieverbrauch / Leistungsaufnahme |
| power network | Energieversorgungsnetz |
| process variation | Schwankungen im Herstellungsprozess (d.h. Streuparameter) |
| proximity | Nähe |
| queue | Reihe / Schlange |
| rectangle | Rechteck |
| reduce | Reduzieren |
| refinement of a clustered graph (different from partition refinement) | Verfeinerung eines Gruppierten Graphs (abweichend von
Partitionsverfeinerung) |
| remove | Entfernen |
| restructuring | Umstrukturierung |
| repeater | Wiederholer, Repeater (Buffer, Verstärker, etc.) |
| required arrival time (RAT) | Benötigte / geforderte Ankunftszeit |
| reset | Neustart |
| resistance | Widerstand |
| resolution enhancement technique (RET) | Methoden zur Auflösungsverbesserung bei Strukturen unterhalb der Lichtwellenlänge |
| rip-up and reroute | Verdrahtungsverfahren welches (ohne Betrachtung der vorherigen Reihenfolge) die Verdrahtung bzgl. Blockierungen untersucht und partiell neu verlegt |
| routing | Verdrahtung |
| routing congestion | Verdrahtungsüberlastung |
| routing pitch | Abstand von Verdrahtungsbahnen |
| routing track | Verdrahtungsbahn |
| row-based layout | Reihenbasiertes Schaltungs-Layout |
| runtime | Betriebszeit |
| scale | Dimension des Problems |
| schedule | Zeitplan |
| segment | Segment |
| semiconductor wafer | Halbleiter (Silizium- )Wafer |
| sequential circuit | Reihenschaltung ( Schaltung mit Speicherelementen) |
| set | Menge |
| setup constraints | Aufbauvorgaben / -randbedingungen |
| shallow | Oberflächlich |
| shape | Form (z.B. das Verhältnis eines Rechtecks) |
| Short-circuit | Kurzschluss |
| shortest-path tree | Minimaler Baum |
| signal net | Signalnetz |
| signal integrity | Signalintegrität |
| signoff | Ablieferung / Abnahme des Projekts |
| skew | Zeitdifferenz zwischen Ereignissen, welche simultan seien sollten |
| slew rate | Umschaltvorgang / -dauer eines Signals, Schaltgeschwindigkeit (z.B. in Volt/ns) |
| slicing floorplan | Geschnittener Floorplan |
| simulated annealing | Simulated-Annealing-Algorithmus („Simulierte Abkühlung“) |
| single-trunk tree | (Verdrahtungs-)Baum mit einem Hauptstamm |
| sizing | Skalierung |
| snaking | Verlängerung von Verdrahtungswegen mittels Windungen, wiederholten Biegungen („Schlängellinien“) |
| soft block | Module mit fester Größe / Fläche bei veränderbaren Abmessungen |
| spanning tree | Spannbaum |
| sparse | Dünn / spärlich |
| specific | Spezifisch |
| square | Quadratisch |
| stage | Phase / Stufe |
| standard cell | Standardzelle |
| successive (over)relaxation | Splitting-Verfahren, iterative Verfahren zum Lösen linearer Gleichungssysteme |
| switchbox | Verdrahtungs- / Kreuzungsbereich von horizontalen und vertikalen (Verdrahtungs-)Kanälen |
| tapeout (of a chip) | Übergabe der Geometriedaten an die Fertigung |
| target | Ziel |
| technology node | Technologieknoten |
| termination | Abschluss / Abbruch / Terminierung |
| thickness | Dicke |
| timing slack | Schlupfvariable (für die Taktung) |
| timing-driven placement/routing | Platzierung / Verdrahtung unter Berücksichtigung von (maximaler) Signalverzögerung |
| Top-down | Top-down, Entwurfsparadigma: von oben nach unten / von Abstrakt zu Konkret |
| total length | Gesamtlänge |
| tradeoff | Kompromiss |
| transition time | Umschaltzeit |
| traversal | Traversierung, Durchgang |
| trial placement/routing | Versuchsbasierte, Vorläufige Platzierung / Verdrahtung |
| try | Versuch |
| uniform | Einheitlich |
| undirected graph | Ungerichteter Graph |
| unroll | Erweitern |
| update | Aktualisierung / Berichtigung |
| upstream | Flussaufwärts |
| variable die | Variabler Chip / Chip unbekannter Größe |
| via | Durchkontaktierung zur Verbindung von Leiterbahnen auf verschiedenen Materialebenen |
| violation | Verletzung / Nichteinhaltung |
| voltage | Spannung |
| wafer | Siliziumscheibe |
| width | Breite |
| VLSI | (very-large system integration) Hochintegrierter Schaltkreis |
| VDD | Stromversorgung |
| VSS | Masse / Ground |
| yield | Ausbeute (Verhältnis nutzbarer Schaltkreis zu gesamten Schaltkreisen eines Wafers) |
| ZSA (zero-slack algorithm) | Verfahren zur Bestimmung von Schlupfvariablen für Netze (bzgl. des Taktes), sodass Verzögerungs- / Taktungskriterien erfüllt sind und größtmögliche Freiheit der Schlupfvariablen gegeben ist |
| ZST (zero-skew tree) | Taktbaum ohne asymmetrische Verzögerungen, d.h., Schlupfvariablen sind gleichförmig verteilt |