German
From EDA Glossary
English terms | Übersetzung (deutscher Begriff, Beschreibung) |
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acceptance criterion | Akzeptanzkriterium |
actual arrival time (AAT) | Tatsächliche Ankunftszeit |
adjacent | Angrenzend |
admissible function | Zulässige Funktion |
alignment | Ausrichtung |
aspect ratio | Seitenverhältnis |
ASIC (application-specific integrated circuit) | Anwendungspezifischer integrierter Schaltkreis |
bidirectional | Bidirektional / ungerichtet |
big-oh | O-Notation |
bipartite graph | Bipartiter Graph / zweiteiliger Graph |
bottleneck | Flaschenhals / Engpass |
bottom-up | Bottom-Up, Entwurfsparadigma: von unten nach oben / von Konkret zu Abstrakt |
bounding box | Umspannendes Rechteck |
breadth-first search (BFS) | Suche erfolgt in der Breite, d.h. alle Elemente werden in der gleichen Tiefe indiziert |
buffer insertion, buffering | Einsetzen von Verstärkern zur Erhöhung der Treiberleistung |
capacitive load | Kapazitive Last |
capacity | Kapazität |
capacitance (capacitive) shielding | Kapazitive Schirmung / Schirmung vor kapazitiven Einflüssen |
channel | Kanal |
chip die | Halbleiterträger eines Integrierten Schaltkreises |
clique | Clique, vollständiger (Teil-)Graph mit einer gegebenen Anzahl von Knoten |
clock cycle, period | Taktzyklus / -periode |
clock tree | Taktnetz / -baum |
clock skew | Taktversatz (zwischen zwei synchronen Schaltungselementen) |
CMOS (complementary metal oxide semiconductor) | Komplementäre MOS Technik/ Komplementärer Metall-Oxid- Halbleiter |
combinational circuit | Kombinatorischer Schaltkreise (ohne Speicherelemente) |
combinatorial optimization | kombinatorische (diskrete) Optimierung / Schaltungsoptimierung |
Communication | Kommunikation |
conditioning number | Konditionszahl / Maß für die Abhängigkeit einer Problemlösung von der (ungünstigsten) Störung der Eingangsdaten |
conductor | Leiter |
congestion | Überlastung |
Congestion-driven | Überlastungsgesteuert |
conjugate gradients | Konjugierte Gradienten (mathematisches Verfahren) |
Constraint | Randbedingung / Vorgabe |
converter | Wandler / Konverter |
convex | Konvex |
correction | Korrektur / Berichtigung / Verbesserung |
coupling capacitance | Koppelkapazität |
critical | Kritisch |
crosstalk noise | Rauschen durch (Signal-)Überlagerung |
current | Strom |
curve | Kurve / Biegung |
data point (in a data set) | Datenpunkt (in einem Datensatz) |
delay budgeting | Verzögerungsplanung |
delay (fall delay / rise delay) | Verzögerung (Abfallverzögerung / Anstiegsverzögerung) |
density | Dichte |
depth-first search (DFS) | Suche erfolgt in die Tiefe, d.h. es werden Elemente mit ständig wachsender Tiefe indiziert |
derivative | Abgeleitet / Ableitung / Derivat |
design flow | Entwurfsprozess |
design productivity crisis | Entwurfsproduktivitätskrise |
design rule | Entwurfsregel |
diamond | Rhombus |
die | Unverpackter Siliziumchip / Chip mit integrierter Schaltung (bezogen auf das Herstellungsverfahren von Halbleitern) |
digital | Digital |
directed graph | Gerichteter Graph |
distribution | Verteilung |
detour | (Verdrahtungs-)Umweg |
driver | Treiber(-Stufe) |
diven (sink, pin) | Senke, Pin (Kontakt) |
dogleg | Knick (eines Verdrahtungsweges) |
downsizing | Reduzierung / Skalierung |
downstream | Unterhalb / nachfolgend |
EDA (electronic design automation) | Entwurfsautomatisierung in der Elektrotechnik (EDA) |
edge | Kante |
embedding | Eingebettet / einbetten |
engine | Komponente des CAD-Systems, welches einem gemeinsam Ziel dient ("Motor") |
estimate | Auswerten, beurteilen, Einschätzen |
evenly | Gleichmäßig |
evidence | Beweis |
excessive | Übermäßig |
exhaustive enumeration | Erschöpfende / vollständige Aufzählung (Vollständige Suche) |
gain | Gewinn, Nutzen |
gate | (Logik-)Gatter |
gate array | Gate-Arrays (regelmäßige Anordnung von Gattern, welche per Verdrahtung in spezifische Schaltkreise überführt werden) |
gate sizing | Skalierung von Gattern |
ground | Erdung |
fab, fabrication | Herstellung |
fake | Fälschung |
Fan-in | Maximale Anzahl logischer Eingänge, die einen Baustein antreiben |
Fan-out | Maximale Anzahl logischer Bausteine, die per Ausgang angetrieben werden können |
feedthrough cell | Durchgangszelle |
fixed die | Chip mit fester Größe / Position |
Flip-flop | Bistabiles Kippglied; umgangssprachlich meist für Flankengesteuertes Flipflop |
floorplanning | Floorplanning |
floorplan sizing | Festlegung der Außenform der Topzelle und Festlegung der einzelnen Blockformen und -abmessungen |
flow | Fluss / Entwurfsfluss |
Force-directed | Kräftebasiert / Kraft-gerichtet |
FIFO (first-in first-out) | FIFO-Verfahren / Datenhaltung in Warteschlange |
FPGA (field-programmable gate array), PLD (programmable logic device) | (Im Anwendungsfeld) Programmierbare Gatter-Matrix von Logikbausteinen |
full-chip routing | Verdrahtung des gesamten Chips |
grid | Netz/Gitter/Raster |
hard block | Module mit festen Größen, Abmessungen |
hardware | Hardware |
height | Höhe |
hill-climbing (an optimization approach) | Bergsteigen (Ansatz zur Optimierung von nichtkonvexen Funktionen) / Hill-Climbing |
hold constraints | Randbedingung bzgl. der Haltedauer / Gültigkeit von Signalen |
HPWL | Verdrahtungslänge, nach dem halben Umfang des umspannenden Rechtecks des Netzes |
IC layout | Layout, eine geometrische Darstellung („Geometrie“) eines integrierten Schaltkreises |
inaccuracy | Ungenauigkeit / Fehler |
increase | Erhöhen / steigern |
intersect | Überschneiden |
insulator | Isolator |
interconnect | Verbindungen |
intrinsic delay | Verzögerungszeit einer Zelle / eines Gatters |
ITRS (the International Technology Roadmap for Semiconductors) | Internationale Roadmap für Halbleitertechnik |
layer assignment (for a route) | Zuweisung von Verdrahtungsebenen (für ein Netz) |
layout optimizations | Optimierung des physikalischen Entwurfs / Layout-Optimierung |
latch | Zustandsgesteuertes Flipflop |
layout | Layout / physikalischer Entwurf |
leakage | Leckstrom |
length | Länge |
light | Leicht |
lock | Fixieren |
longest path | Längster Pfad |
lookup table | Umsetzungs- / Referenz-Tabelle |
loop | Zyklus (im Programm, eines iterativen Verfahrens) |
Manhattan distance, L1-distance | L1-Norm-Distanz / Distanz innerhalb der Manhattan Metrik |
mask (photomask) | Maske (Photomaske) |
mask generation | Maskenerstellung |
matching | Abgleich/Angleichen/Abstimmung |
merge | Vereinen, zusammenfügen, verschmelzen, fusionieren |
mesh | Netz |
method of means and medians | Methode der Mittelwerte und Mediane |
min-cut placement | Min-Cut-Platzierung |
minimum least squares | Methode der kleinsten Quadrate |
move-based optimization | Rundenbasierte / iterative Optimierung |
move gain | Iterationsgewinn |
multistage optimization | Schrittweise Optimierung / Mehrstufige Optimierung |
negligible | Vernachlässigbar |
negotiated congestion routing | Verdrahtungs-Verfahren zur Berücksichtigung von bedingten Engpässen (Kanäle, Regionen, etc.), „Auktion“- Verdrahtung |
netlist | Netzliste (logische Schaltungsbeschreibung) |
netlist restructuring | Umstrukturierung der Netzliste / Umstrukturierungsregelung |
network | Netzwerk, Gitterschema |
noise | Rauschen |
nonintersecting routes | Disjunkte Routen / nichtüberschneidende Verbindungen |
nonoverlapping blocks | Nicht-überlappende Blöcke |
nonslicing floorplan | Nicht-geschnittener Floorplan |
nonuniform | Uneinheitlich |
offset | Offset / Versatz |
ordering | Reihenfolge / Abfolge / Ordnung |
overlap | Überlappung / Überschneidung |
over-the-cell routing | Verdrahtung über die Gattern hinweg |
pad | Kontaktfeld (auf Chip) |
partial derivative | Partielle Ableitung |
pass (in algorithms) | Durchlauf (von Algorithmen) |
path | Pfad |
pattern | Struktur |
pattern routing | Raster-Verdrahtung |
partition | Partition/ Teilung |
PCB (printed circuit board) | Leiterplatte |
performance constraints | Performance-/ Leistungsvorgaben |
performance optimization | Performance-/ Leistungsoptimierung |
per-unit resistance (capacitance) | Hilfsmaßeinheit Per-Unit, relative Größenangabe, für Widerstand oder Kapazität |
pin | Elektrischer Anschluss einer Zelle bzw. Eines Bauelements |
pin assignment | Pinzuordnung |
pin ordering | Pinreihenfolge |
placement | Platzierung |
primary inputs (outputs) | Primäre Eingangs-(Ausgangs-)kontakte |
pole | Pol |
polygon | Polygon |
power | Leistung / Energie |
power consumption | Energieverbrauch / Leistungsaufnahme |
power network | Energieversorgungsnetz |
process variation | Schwankungen im Herstellungsprozess (d.h. Streuparameter) |
proximity | Nähe |
queue | Reihe / Schlange |
rectangle | Rechteck |
reduce | Reduzieren |
refinement of a clustered graph (different from partition refinement) | Verfeinerung eines Gruppierten Graphs (abweichend von
Partitionsverfeinerung) |
remove | Entfernen |
restructuring | Umstrukturierung |
repeater | Wiederholer, Repeater (Buffer, Verstärker, etc.) |
required arrival time (RAT) | Benötigte / geforderte Ankunftszeit |
reset | Neustart |
resistance | Widerstand |
resolution enhancement technique (RET) | Methoden zur Auflösungsverbesserung bei Strukturen unterhalb der Lichtwellenlänge |
rip-up and reroute | Verdrahtungsverfahren welches (ohne Betrachtung der vorherigen Reihenfolge) die Verdrahtung bzgl. Blockierungen untersucht und partiell neu verlegt |
routing | Verdrahtung |
routing congestion | Verdrahtungsüberlastung |
routing pitch | Abstand von Verdrahtungsbahnen |
routing track | Verdrahtungsbahn |
row-based layout | Reihenbasiertes Schaltungs-Layout |
runtime | Betriebszeit |
scale | Dimension des Problems |
schedule | Zeitplan |
segment | Segment |
semiconductor wafer | Halbleiter (Silizium- )Wafer |
sequential circuit | Reihenschaltung ( Schaltung mit Speicherelementen) |
set | Menge |
setup constraints | Aufbauvorgaben / -randbedingungen |
shallow | Oberflächlich |
shape | Form (z.B. das Verhältnis eines Rechtecks) |
Short-circuit | Kurzschluss |
shortest-path tree | Minimaler Baum |
signal net | Signalnetz |
signal integrity | Signalintegrität |
signoff | Ablieferung / Abnahme des Projekts |
skew | Zeitdifferenz zwischen Ereignissen, welche simultan seien sollten |
slew rate | Umschaltvorgang / -dauer eines Signals, Schaltgeschwindigkeit (z.B. in Volt/ns) |
slicing floorplan | Geschnittener Floorplan |
simulated annealing | Simulated-Annealing-Algorithmus („Simulierte Abkühlung“) |
single-trunk tree | (Verdrahtungs-)Baum mit einem Hauptstamm |
sizing | Skalierung |
snaking | Verlängerung von Verdrahtungswegen mittels Windungen, wiederholten Biegungen („Schlängellinien“) |
soft block | Module mit fester Größe / Fläche bei veränderbaren Abmessungen |
spanning tree | Spannbaum |
sparse | Dünn / spärlich |
specific | Spezifisch |
square | Quadratisch |
stage | Phase / Stufe |
standard cell | Standardzelle |
successive (over)relaxation | Splitting-Verfahren, iterative Verfahren zum Lösen linearer Gleichungssysteme |
switchbox | Verdrahtungs- / Kreuzungsbereich von horizontalen und vertikalen (Verdrahtungs-)Kanälen |
tapeout (of a chip) | Übergabe der Geometriedaten an die Fertigung |
target | Ziel |
technology node | Technologieknoten |
termination | Abschluss / Abbruch / Terminierung |
thickness | Dicke |
timing slack | Schlupfvariable (für die Taktung) |
timing-driven placement/routing | Platzierung / Verdrahtung unter Berücksichtigung von (maximaler) Signalverzögerung |
Top-down | Top-down, Entwurfsparadigma: von oben nach unten / von Abstrakt zu Konkret |
total length | Gesamtlänge |
tradeoff | Kompromiss |
transition time | Umschaltzeit |
traversal | Traversierung, Durchgang |
trial placement/routing | Versuchsbasierte, Vorläufige Platzierung / Verdrahtung |
try | Versuch |
uniform | Einheitlich |
undirected graph | Ungerichteter Graph |
unroll | Erweitern |
update | Aktualisierung / Berichtigung |
upstream | Flussaufwärts |
variable die | Variabler Chip / Chip unbekannter Größe |
via | Durchkontaktierung zur Verbindung von Leiterbahnen auf verschiedenen Materialebenen |
violation | Verletzung / Nichteinhaltung |
voltage | Spannung |
wafer | Siliziumscheibe |
width | Breite |
VLSI (very-large system integration) | Hochintegrierter Schaltkreis |
VDD | Stromversorgung |
VSS | Masse / Ground |
yield | Ausbeute (Verhältnis nutzbarer Schaltkreis zu gesamten Schaltkreisen eines Wafers) |
ZSA (zero-slack algorithm) | Verfahren zur Bestimmung von Schlupfvariablen für Netze (bzgl. des Taktes), sodass Verzögerungs- / Taktungskriterien erfüllt sind und größtmögliche Freiheit der Schlupfvariablen gegeben ist |
ZST (zero-skew tree) | Taktbaum ohne asymmetrische Verzögerungen, d.h., Schlupfvariablen sind gleichförmig verteilt |